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解析、検証体制

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迅速な不具合解析と検証体制

第一解析は、原則48時間以内に対応

各半導体メーカーと連携し完全バックアップ

ISO9001に基づいた、サポート

実装半導体部品メーカーとの協業体制を元に、

顧客へのサポート体制を構築しています。

品質保証体系 

企画から量産まで、ADT、ADTEC、メーカー、実装工場がISO9001 品質保証体系にもとづき、
完全バックアップで提供します。

         
 

品質保証体系図

 

 

 

解析フローチャート 

不具合発生時は48時間以内に第一次解析が行われます。各メーカーと連携し、解決まで確実な対応を行います。

 

解析フローチャート

 

 

耐久試験・加速度試験用設備

恒温恒湿試験装置
恒温恒湿試験
冷熱衝撃試験装置
冷熱衝撃試験
低温高温試験装置
低温高温試験
高温試験装置
高温試験
装置  恒温恒湿試験  冷熱衝撃試験  低温高温試験  高温試験    
製品

 FX405C(ETAC製)  

 TSE-11-A(ESPEC製) 

 MC-711(ESPEC製) 

 EPR-111(ISUZU製)
温度範囲  -40~+100℃   高温:+60~+200℃
  低温:+65~0℃
 -75~+100℃  最大恒温:+260℃
その他   20~98%RH    遷移時間:5分以内